分光密度儀CM-2600D

>>產品簡介

CM-2600D分光密度儀可同時測定SCI(包含鏡面反射光)包(消除鏡面反射光)技術先進的數字化光澤控制。 僅用1.5秒即可同時完成SCI與SCE的測定，并通過液晶面板顯示SCI/SCE數據，再也不必進行頻繁的機械式的SCI/SCE切換，不僅提高了作業(yè)效率，避免了測定時的位置偏移而得到準確、穩(wěn)定的測定數據。

>>技術參數

1.照明 / 受光光學系統(tǒng)：d/8 (擴散照明，8°方向受光) SCI/SCE同時測定 (無機械切換)

(根據DIN 5033 第七部份、JIS Z 8722的條件C、ISO 7724/1、CIE No. 15、ASTM E1164)

2.積分球尺寸：?52mm

3.分光方法：平面回折光柵

4.測定波長范圍：360nm至740nm

5.測定波長：間隔10nm

6.半值寬度：約10nm

7.反射率測定范圍 0至175%、顯示分解能力;0.01%

8.測定用光源：脈沖氙弧燈3個

9.測定時間：約1.5秒 (熒光測定時：約2秒)

10.最小可測間隔SCI/SCE測定時間3秒 (熒光測定時：約4秒)

11.測定直徑 / 照明直徑MAV：?8mm / ?11mm

12.觀測光源：A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12 

>>華測實力

1、華測經過多年發(fā)展，在紙品、環(huán)境、力學、電池、箱包類等檢測設備研發(fā)和生產中擁有非常成熟的技術，并且在環(huán)境/紙品/力學類等多個領域中獲國家專利，產品質量有保障。

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